En la mayoría de los planes de muestreo, cuando se rechaza un Me se inspecciona el lote entero y se
inspecciona el lote y se remplazan todos lo artículos defectuosos. El uso de esta técnica de reemplazo mejora la calidad de salida promedio en términos del porcentaje de defectos. De hecho, dado I. cualquier plan de muestreo que
reemplace iodos, los artículos defectuosos encontrados y 2. el porcentaje de defectos de entrada verdadero para el lote, es posible determinar la calidad de salida promedio (CSP) como un porcentaje de defectos. La ecuación para CSP es.
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